Mijlpaal in nano-technologie een feit

Nieuws | de redactie
15 juni 2009 | UU-onderzoekers hebben met collega's van IBM in Zürich en de Universiteit van Regensburg in Duitsland voor het eerst de ladingstoestand van één atoom direct gemeten. Dit is een mijlpaal voor de nanotech en -wetenschap.

Zij deden dit met een atomic force-microscoop (AFM) en konden zo neutrale atomen van negatief en positief geladen atomen onderscheiden. Ze publiceren hun resultaten deze week in Science.

Deze wetenschappelijke doorbraak schept nieuwe mogelijkheden voor het verkennen van nanostructuren en minuscule schakelingen en kan grote invloed hebben op onderzoeksgebieden als moleculaire elektronica, katalyse en zonneceltechnologie. Voor hun metingen combineerden de onderzoekers een zogenaamde atomic force-microscoop met een scanning tunneling-microscoop in vacuüm bij 265 graden onder nul. Ze bepaalden de ladingstoestand van geladen goud- en zilveratomen door het kleine krachtverschil te meten tussen het atoom en de punt van de atomic force-microscoop.

De nieuwe techniek is onder andere belangrijk voor chemisch onderzoek. “Hiermee kunnen we straks direct meten hoe de lading in moleculen verdeeld is. Dat is cruciaal om hun gedrag te begrijpen”, aldus Peter Liljeroth, scheikundig onderzoeker aan de Universiteit Utrecht.
Het artikel heet: “Measuring the Charge State of an Adatom with Noncontact Atomic Force Microscopy”,  L. Gross, F. Mohn, P. Liljeroth, J. Repp, F. J. Giessibl, en G. Meyer, Science, Volume 324, Issue 5933 (12 June 2009).





«
Schrijf je in voor onze nieuwsbrief
ScienceGuide is bij wet verplicht je toestemming te vragen voor het gebruik van cookies.
Lees hier over ons cookiebeleid en klik op OK om akkoord te gaan
OK