Mijlpaal in nano-technologie een feit
Zij deden dit met een atomic force-microscoop (AFM) en konden zo neutrale atomen van negatief en positief geladen atomen onderscheiden. Ze publiceren hun resultaten deze week in Science.
Deze wetenschappelijke doorbraak schept nieuwe mogelijkheden voor het verkennen van nanostructuren en minuscule schakelingen en kan grote invloed hebben op onderzoeksgebieden als moleculaire elektronica, katalyse en zonneceltechnologie. Voor hun metingen combineerden de onderzoekers een zogenaamde atomic force-microscoop met een scanning tunneling-microscoop in vacuüm bij 265 graden onder nul. Ze bepaalden de ladingstoestand van geladen goud- en zilveratomen door het kleine krachtverschil te meten tussen het atoom en de punt van de atomic force-microscoop.
De nieuwe techniek is onder andere belangrijk voor chemisch onderzoek. “Hiermee kunnen we straks direct meten hoe de lading in moleculen verdeeld is. Dat is cruciaal om hun gedrag te begrijpen”, aldus Peter Liljeroth, scheikundig onderzoeker aan de Universiteit Utrecht.
Het artikel heet: “Measuring the Charge State of an Adatom with Noncontact Atomic Force Microscopy”, L. Gross, F. Mohn, P. Liljeroth, J. Repp, F. J. Giessibl, en G. Meyer, Science, Volume 324, Issue 5933 (12 June 2009).
Meest Gelezen
‘Compensatoir toetsen komt kwaliteit hoger onderwijs wél ten goede’
‘Juist bij flexibiliteit heeft student behoefte aan structuur’
Minister: “Verengelsing ondermijnt de toegankelijkheid van universiteiten”
Wet leeruitkomsten: Doorgeschoten individualisering of broodnodige keuzevrijheid?
Kamer zet voorlopig streep door volgende ronde Groeifonds